INSPEKSIE EN VERPAKKING VAN ZW-REEKS SWEISDIODE
Toetsmetodes en inspeksiereëls
1. Bondel vir bondel inspeksie (Groep A inspeksie)
Elke bondel produkte moet volgens Tabel 1 geïnspekteer word, en alle items in Tabel 1 is nie-vernietigend.
Tabel 1 Inspeksie per bondel
| Groep | InspeksieItem | Inspeksie metode | Kriterium | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Voorkoms | Visuele inspeksie (onder normale beligtings- en sigtoestande) | Logo is duidelik, oppervlakbedekking en platering is vry van afskilfering en skade. | 1.5 |
| A2a | Elektriese eienskappe | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) in JB/T 7624—1994 | Polariteit omgekeer:VFM> 10USL IRRM> 100 USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) in JB/T 7624—1994 | Klagte aan die vereistes | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) in JB/T 7624—1994 | Klagte aan die vereistes | ||
| Let wel: USL is die maksimum limietwaarde. | ||||
2. Periodieke inspeksie (Groep B en Groep C inspeksie)
Volgens Tabel 2 moet die voltooide produkte in normale produksie elke jaar ten minste een groep van Groep B en Groep C geïnspekteer word, en die inspeksie-items gemerk met (D) is vernietigende toetse.Indien die aanvanklike inspeksie ongekwalifiseerd is, kan addisionele monsterneming weer geïnspekteer word volgens Bylaag Tabel A.2, maar slegs een keer.
Tabel 2 Periodieke inspeksie (Groep B)
| Groep | InspeksieItem | Inspeksie metode | Kriterium | Steekproefplan | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Temperatuurfietsry (D) gevolg deur verseëling |
| Meting na toets:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL nie lekkasie nie | 6 | 1 |
| CRRL | Gee kortliks die relevante eienskappe van elke groep, die VFM en ekRRMwaardes voor en na die toets, en die toetsgevolgtrekking. | ||||
3. Identifikasie-inspeksie (groep D-inspeksie)
Wanneer die produk gefinaliseer en in produksie-evaluering geplaas is, moet, benewens die A, B, C-groepinspeksies, die D-groeptoets ook volgens Tabel 3 gedoen word, en die inspeksie-items gemerk met (D) is vernietigende toetse.Normale produksie van voltooide produkte moet elke drie jaar ten minste een groep van Groep D getoets word.
Indien die aanvanklike inspeksie misluk, kan addisionele monsterneming weer geïnspekteer word volgens Bylaag Tabel A.2, maar slegs een keer
Tabel 3 Identifikasietoets
| No | Groep | InspeksieItem | Inspeksie metode | Kriterium | Steekproefplan | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Termiese siklus las toets | Siklustye: 5000 | Meting na toets:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Skok of vibrasie | 100g: hou 6ms, halfsinusgolfvorm, twee rigtings van 3 onderling loodregte asse, 3 keer in elke rigting, totaal 18 keer.20g: 100~2000Hz，2h van elke rigting, totaal 6h. | Meting na toets: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Gee kortliks die relevante kenmerkdata van elke groep, die VFM , IRRMen ekDRMwaardes voor en na die toets, en die toetsgevolgtrekking. | |||||
Merk en verpakking
1. Merk
1.1 Merk op die produk sluit in
1.1.1 Produknommer
1.1.2 Terminale identifikasiemerk
1.1.3 Maatskappynaam of handelsmerk
1.1.4 Inspeksielot identifikasiekode
1.2 Logo op die karton of aangehegte instruksie
1.2.1 Produkmodel en standaardnommer
1.2.2 Maatskappy se naam en logo
1.2.3 Vogbestande en reënbestande tekens
1.3 Pakket
Produkverpakkingsvereistes moet voldoen aan plaaslike regulasies of klantvereistes
1.4 Produkdokument
Die produkmodel, implementeringstandaardnommer, spesiale elektriese werkverrigtingvereistes, voorkoms, ens. moet op die dokument vermeld word.
Diesweisdiodevervaardig deur Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor word wyd toegepas in weerstandsweismasjiene, medium- en hoëfrekwensie-sweismasjiene tot 2000Hz of hoër.Met 'n ultra-lae voorwaartse piekspanning, ultra-lae termiese weerstand, moderne vervaardigingstegnologie, uitstekende vervangingsvermoë en stabiele werkverrigting vir globale gebruikers, is die sweisdiode van Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor die een van die mees betroubare toestelle van China krag halfgeleier produkte.